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测试探针

XQY-SMAK-TTD115JZ

【产品名称】测试探针

【外壳材质】黄铜镀金

【测试类型】多点焊盘

【频率范围】DC-8.5GHz

【外形尺寸】24.8*16*6mm

【定制服务】特殊尺寸、接头类型、材质、频率范围均可定制



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  • 应用领域

    应用于半导体、通信、航空航天、汽车电子及医疗设备等领域的高频信号测试与性能验证。

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